產品分類
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產品型號
CGSR-B -
廠商性質
生產廠家 -
更新時間
2026-06-23 -
瀏覽次數
2273
產品描述
本設備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界面友好，測量時間不到1秒。可應用于光阻、半導體材料、高分子材料等薄膜層的厚度測量，在半導體、太陽能、液晶面板和光學行業以及科研院所和高校都得到了廣泛的應用和極大的好評。
24 小時銷售熱線15955179814
